2026年5月6日，国际电工委员会（IEC）正式发布了 IEC 62321-3-1:2026 新版标准，全面替代旧版 IEC 62321-3-1:2013。作为电子电气行业RoHS符合性验证的核心筛查标准，此次更新在保持X射线荧光光谱分析法（XRF）技术框架的基础上，对筛查元素范围与分析效能进行了显著提升。

概要：

IEC 62321-3-1:2026采用X射线荧光光谱分析法（XRF），对电子电气产品均质材料中的各项元素进行筛选检测，具有快速、非破坏性以及适用于多种材料的特点，可筛查材料中铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、总铬（Total Cr）、总溴（Total Br ）等元素的含量，常用于电子元器件、塑料件、金属件、陶瓷材料、电线、PCB、外壳及涂层等材料的初步风险评估。

主要更新点：

相较于2013版标准，新版标准在原有筛查元素基础上新增了磷（P）、氯（Cl）、锡（Sn）和锑（Sb）四种元素，从而扩展了XRF快速筛查的适用场景。这一升级可支撑除RoHS常规五项元素以外的其他限用物质筛查，例如三(2-氯乙基)磷酸酯（TCEP）、短链氯化石蜡（SCCP）、有机锡、锑铅黄等。本次标准更新未对RoHS整机验证项目的测试流程与结果判定规则作出实质性变更，不会对原有的测试结论产生影响。

沃特服务：

沃特已具备新标准IEC 62321-3-1:2026中关于RoHS整机验证元素筛查的测试能力及对应的CNAS资质，可协助企业高效完成标准切换，为企业进出口产品合规保驾护航。